曲线图示仪可控硅测试仪

曲线图示仪可控硅测试仪

产品特点

显示屏: 8.4″ TFT LCD SVGA 800×600像素彩色显示屏

宽测量频率

SY-8218: 正弦波10Hz – 10MHz, 方波在占空比50:50时10Hz – 1MHz

SY-8219: 正弦波10Hz – 1MHz, 方波在占空比50:50时10Hz – 1MHz

16倍高速采集数据 (与岩崎前B-H分析仪型号比较)

采集数据在8,192点/周期执行精确参数测量, 如Hc (强制力), Br (残余通量密度) 和其他参数

脉冲励磁功能

正弦波与脉冲(在占空比50:50和1MHz时) 励磁均为标准功能

数模转换器: 16位 (8,192点/周期)

磁通密度信号检测: 感应电压检测线圈两端压降法. 最大信号检测电压±200V

宽温度范围恒温箱扫描系统提供汽车车辆标准AEC-Q200等级0兼容, 作业温度范围 -55ºC ~ +180ºC, 4个样品测试 (SY-330)

全自动恒温箱扫描系统提供作业温度范围-30°C ~ +150°C和最多20/41个样品测试 (SY-320A/SY-321A)

DC – 3MH, 最大电压 ±150V, 最大电流 ±6A双极性功率放大器 (SY-5001)

DC – 3MHz, 最大电压 ±75V, 最大电流 ±6A 双极性功率放大器 (SY-5002)

DC – 10MHz, 最大电压 ±71V, 最大电流 ±1A 双极性功率放大器 (HSA4101-IW)

小型片状样品磁特性测试台样品尺吋要求 (SY-956)

样品的长度必须是36mm以上

样品的宽度必须是35mm以下

样品的厚度必须是3mm以下

最大DC偏置电流30A, 最大AC波纹电流±6A 直流叠加测试台 (SY-960/961/962)

日本IWATSU CS-3300半导体特性曲线图示仪CS-3100，CS-3200，(符合 UL 规格)

非常适合测量不同类型半导体（包括IGBT、MOSFET、晶体管和二极管）的特性

zui大峰值电压：3000 V（高电压模式，适合所有型号）

zui大峰值电流：1000 A（CS-3300高电流模式）

所有型号均支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA）

USB接口（保存屏幕图像和设置条件）

LAN接口（远程控制）



产品名称

型号

备注

主机

半导体特性曲线图示仪

CS-3100

3000V /无高电流模式- CS-301 / CS-500

半导体特性曲线图示仪

CS-3200

3000V / 400A（高电流模式）- CS-302 / CS-500

半导体特性曲线图示仪

CS-3300

3000V / 1000A（高电流模式）- CS-302 / CS-500

测试台

S型测试台

CS-301

CS-3100标配

M型测试台

CS-302

CS-3200 / CS-3300标配

测试适配器

测试适配器

CS-500

主控装置附送1个测试适配器

TO型测试适配器

CS-501

适用于TO型封装（3个引脚）的插口

鳄鱼夹

小型鳄鱼夹（红色） x 10

CS-001

M型测试台选件：CS-302

小型鳄鱼夹（黑色） x 10

CS-002

M型测试台选件：CS-302

软件选件

半导体参数搜索

CS-800

该软件选件需与CS-3000系列配合安装

半导体参数测量

CS-810

主控装置中装有CS-800时，该选项可以在PC（可选）上使用。

B-H 分析仪 SY-8218 SY-8219 磁性材料分析仪，

精确测量软磁性材料的交流磁特性，直至高频
该装置用于测量软磁性材料的交流磁特性。
非常适合材料、核心、零件和设备制造商的研发、质量保证和制造部门的新产品开发和产品检验。 除了 BH/Pc 测量功能外，还可以测量 m/L/Q。
产品功能
电子电力元件或器件测试波形特性的功能显示 (附图)
配备选件 CS-603A (3kV) 或 CS-605A (5kV), 可实现电子电力器件如SiC和GaN等的电容测试
在3kV (CS-603A)/5 kV (CS-605A) 作自动与扫描电容测试
曲线图示仪的测试适配器可用于各种器件封装类型
测试参数包括:
Cies, Ciss (输入电容)
Coss (输出电容)
Cres, Crss (反向传输电容)
Ct (端子间的电容)
Cgs, Cge/Cgd, Ccg/Cds, Cce (已计算)
Rg (栅极电阻)
可实行晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A)
具有外部联锁功能的恒温箱高低温试验
与电脑全自动化的完美结合
标准配置 (主机背面)
测试点数可调整.可根据需要的扫描速度及分辨率来设置. 根据不同用途可改变扫描方向. 同时具有客户指定功能, 可以指定仅对某一段进行扫描, 特别是在自动测试时可以实现高速且高分辨率的测试(附图)
限制扫描功能 (选件CS-800)
在一般的扫描测试中加入电流, 电压的限制功能. 限制在被测模块上印加的电流值, 电压值以起到保护作用. 也可在达到目标值时停止扫描(附图)
Vth-hFE自动检测功能(选件CS-800)
可在条件设㝊后进行自动测试, 避免了之前的繁杂操作
Constant 功能 (选件CS-800)
可印加规定电压或规定电流. 与CS-810半导体参数测试软件配合使用时, 可使用半导体曲线图示仪进行自动疲劳测试
温度特性测试 (选件CS-810)
通过CS-810半导体测试软件对曲线图示仪, 扫描系统, 加热板的自动控制, 实现温度特性评估试验的全自动测试 (附图)
CS-810是一个可安装于电脑中的选件应用软件. 通过以太网控制图示仪, 扫描系统, 加热板等设备, 经简单的设置后就可将一直以来只能手动测试的曲线图示仪实现全自动化测试, 大幅地提升工作效率
全自动化测试:测试→记录→判断. 提高品管和品检的工作效率 (附图)
数据保存/读取 内置：存储器（设置：256，REF波形： 4）
外置：移动存储器（连接至USB端口）
（设置、波形保存/再调用、屏幕硬拷贝）
USB 1个端口(USB1.1)
远程控制 通过局域网进行远程控制：1个端口(100BASE-TX)
电源/功耗 电源输入范围：100 - 240 V AC，
50/60 Hz 功耗：500 VA
配件 CS-301（S型测试台）、
CS-500（测试适配器）、
操作手册、
电源线 CS-302（M型测试台）、
CS-500（测试适配器）、
线束、
操作手册、
电源线
机械部分
尺寸(mm) 424 (长) x 555.2 (宽) x 221 (H)（不含外部凸出部分） 424 (长) x 555.2 (宽) x 354.5 (H)
（不含外部凸出部分）
重量 约30 kg（不含选配件） 约45 kg（不含选配件）
环境条件 工作温度：0 - +40 °C、
保证性能温度：+10 - +35 ℃
显示屏

8.4英寸亮丽屏可以显示详细的波形情况。采用大尺寸屏幕，可以显示菜单和参数而不影响波形网格。

连接性

CS-3000系列前面板上配有USB端口，方便生成报告。按下复制（Copy）按钮即可将屏幕截图保存到USB设备。


读出显示屏
读出显示屏采用不同颜色代表不同功能，操作设置一目了然。

断路器
前面板上分别提供高电压（所有型号）和高电流（CS-3200/3300）断路器。

菜单操作
使用功能旋钮和功能键来操作菜单。

复制(COPY)按钮

配置(CONFIGURATION)按钮
用于显示连接和信号应用状态。
阶梯发生器
使用该旋钮可以设置步进和偏移。

查看/脉冲(VIEW/PULSE)按钮
用于切换跟踪(TRACE)与波形(WAVE)视图。
在波形视图下，屏蔽显示应用电压和电流的时间轴波形，常规曲线跟踪器无法观察到这种波形。

垂直(VERTICAL)和水平(HORIZONTAL)旋钮
这些旋钮安装在易于操作的地方。

变量(VARIABLE)旋钮
用于调节集电极电源的输出电压。
采用耐用型旋钮适合频繁使用。




四、应用说明及功能配置



观察I-V曲线以及电压和电流的应用波形